阻抗分析儀IM7585具備高度、速度，且經(jīng)濟(jì)型多功能，能夠執(zhí)行面面俱到的元件測(cè)試。可搭配DC Bias機(jī)型。人性化操作界面設(shè)計(jì)同步于國(guó)際趨勢(shì)，簡(jiǎn)單操作快速導(dǎo)入產(chǎn)線。多項(xiàng)參數(shù)同時(shí)測(cè)試只需一次設(shè)定，一次同時(shí)顯示。高精密值的量測(cè)數(shù)據(jù)與的功效，為元件和材料*的測(cè)試儀器。阻抗分析儀可通過面板的BNC接頭來實(shí)現(xiàn)兩端，三端或四埠的連接以及可能的接地狀況，備有許多的可選附件以供不同的測(cè)試需要。

　　阻抗分析儀IM7585特點(diǎn)

　　1.不同測(cè)量條件下，一臺(tái)進(jìn)行高速測(cè)量

　　測(cè)量電容等零部件時(shí)，有時(shí)在不同條件下(頻率、電平)測(cè)量多種測(cè)量項(xiàng)目，一條生產(chǎn)線中需要多臺(tái)測(cè)量?jī)x器。IM7585可再不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量，一臺(tái)儀器即可滿足所有要求。

　　2. 檢查速度提高了2倍(跟以往型號(hào)相比)

　　和HIOKI的以往型號(hào)(3532-50)相比，大大縮短了測(cè)量時(shí)間。LCR模式下，以往機(jī)型一般需要5ms的測(cè)量時(shí)間，而IM7585的檢查速度提高了2倍。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中，IM7585發(fā)揮了作用。

　　3. 測(cè)量的反復(fù)精度提高了1位(※1mΩ，100次測(cè)量時(shí))

　　阻抗分析儀IM7585功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí)，要求正確測(cè)量多個(gè)mΩ。IM7585在測(cè)量低阻抗時(shí)的精度比以往機(jī)型提高了1位，因此為用戶提供穩(wěn)定測(cè)量。

　　4. 廣范圍的測(cè)量頻率

　　IM7585可在DC和4Hz～5Hz的范圍內(nèi)設(shè)置5位分辨率的頻帶(1kHz以下為0.01Hz分辨率)?？稍诮咏舱耦l率的測(cè)量和工作條件的狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)量和評(píng)價(jià)。

　　5. 15種測(cè)量參數(shù)

　　可測(cè)量Z、Y等15種參數(shù)，并將需要的參數(shù)讀取至計(jì)算機(jī)中。

　　6. 具備防止誤操作的接觸檢查功能

　　裝載了4端子測(cè)量、2端子測(cè)量的接觸檢查功能。防止在測(cè)量電極不接觸被測(cè)物的狀態(tài)下測(cè)量的情況，因此可以避免出現(xiàn)未檢查的產(chǎn)品出廠。

　　7. 廣范圍的測(cè)量電壓/電流

　　外加一般的開路信號(hào)發(fā)生，可在恒壓/恒流模式下進(jìn)行考慮到電壓/電流依存性的測(cè)量。可設(shè)置廣范圍的、5mV～5V/10μA～50mA(～1MHz)以下的測(cè)量信號(hào)電平。

　　8. 測(cè)試線可延長(zhǎng)至4m

　　阻抗分析儀IM75854端子的構(gòu)造可降低測(cè)試線的影響，測(cè)試線長(zhǎng)達(dá)4m仍可保證精度。從而便于自動(dòng)設(shè)備的配線。